MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
SIDSP技术-全球新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的，的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。
SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
技术数据表
SIDSP探头
探头
特性 | F1.5，N0.7，FN1.5
| F2
| F5，N2.5，FN5
| F15
|
F
| N
| F
| F
| N
| F
|
测量范围
| 0-1.5mm
| 0-0.7mm
| 0-2mm
| 0-5mm
| 0-2.5mm
| 0-15mm
|
使用范围
| 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用
| 粗糙表面
| 标准探头，使用广泛
| 厚涂层
|
测量原理
| 磁感应
| 电涡流
| 磁感应
| 磁感应
| 电涡流
| 磁感应
|
信号处理
| 探头内部32位信号处理(SIDSP)
|
度
| ±(1μm+0.75%读值)
| ±(1.5μm+0.75%读值)
| ±(5μm+0.75%读值)
|
重复性
| ±(0.5μm+0.5%读值)
| ±(0.8μm+0.5%读值)
| ±(2.5μm+0.5%读值)
|
低端分辨率
| 0.05μm
| 0.1μm
| 1μm
|
小曲率半径(凸)
| 1.0mm
| 1.5mm
| 5mm
|
小曲率半径(凹，外置探头)
| 7.5mm
| 10mm
| 25mm
|
小曲率半径(凹，内置探头)
| 30mm
| 30mm
| 30mm
|
小测量面积
| Φ5mm
| Φ10mm
| Φ25mm
|
小基体厚度
| 0.3mm
| 40μm
| 0.5mm
| 0.5mm
| 40μm
| 1mm
|
连续模式下测量速度
| 每秒20个读数
|
单值模式下大测量速度
| 每分钟70个读数
|
主机
型号
特性 | MINITEST 720
| MINITEST 730
| MINITEST 740
|
探头类型
| 内置
| 外置
| 内置外置可换
|
数据记忆组数
| 10
| 10
| 100
|
存储数据量
| 多10,000个
| 多10,000个
| 多100,000个
|
统计值
| 读值个数，小值，大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值(标准设置/自由配置)
|
校准程序符合国际标准和规范
| ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
|
校准模式
| 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值
|
极限值监控
| 声、光报警提示过极限
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测量单位
| um，mm，cm；mils，inch，thou
|
操作温度
| -10℃-60℃
|
存放温度
| -20℃-70℃
|
数据接口
| IrDA 1.0(红外接口)
|
电源
| 2节AA电池
|
标准
| DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
|
体积
| 157mm x 75.5mm x 49mm
|
重量
| 约175g
| 约210g
| 约175g(内置)/230g(外置)
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产品目录
环保测试仪器
